Логин:
Пароль:
Вход
V Всероссийская научно-техническая конференция "Метрология, стандартизация и управление качеством"
г. Омск, 21-22 мая 2020 года
Новости
Информационное сообщение
Приглашение
Представление материалов
Предыдущие конференции
Конкурс
Программа
Участники
Регистрация/Вход
Программа конференции
Структура конференции
Показать в свернутом виде
Без даты
Секция 1 Метрологическое обеспечение качества
(0)
Секция 2 Стандартизация и управление качеством продукции
(0)
Секция 3 Информационные технологии в современном производстве
(0)
Показать в свернутом виде